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WJ 2100-2004 硅光电二极管、硅雪崩光电二极管测试方法

WJ 2100-2004 硅光电二极管、硅雪崩光电二极管测试方法

WJ 2100-2004

行业标准-WJ 兵工民品强制性
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标准WJ 2100-2004标准状态

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标准详情

  • 标准名称:硅光电二极管、硅雪崩光电二极管测试方法
  • 标准号:WJ 2100-2004
    中国标准分类号:L53
  • 发布日期:2004-09-01
    国际标准分类号:31.260
  • 实施日期:2004-12-01
    技术归口:中国兵器工业标准化研究所
  • 代替标准:代替WJ 2100-1992
    主管部门:
  • 标准分类:电子学WJ 兵工民品

内容简介

本标准规定了硅光电二极管、硅雪崩光电二极管的测试方法。本标准适用于硅光电二极管、硅雪崩光电二极管(以下简称二极管)性能参数的测试,其它材料制作的半导体光电二极管性能参数的测试可参照使用。

起草单位

中国兵器工业第二〇九研究所

起草人

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