SJ 21147.4-2016 军用集成电路电发射测量方法 第4部分:传导发射测量-1Ω/150Ω直接合法
SJ 21147.4-2016
行业标准-SJ 电子强制性收藏报错
标准SJ 21147.4-2016标准状态
- 发布于:2016-01-19
- 实施于:2016-03-01
- 废止
内容简介
本部分规定了直接用1Ω阻抗探头测量射频电流和150Ω耦合网络测量射频电压来测量集成电路传导电磁发射(EME)的方法。本部分适用于集成电路引脚的射频电流和射频电压的测量。
起草单位
工业和信息化部电子第四研究院、中国电子科技集团公司第五十八研究所、中国科学院自动化研究所
起草人
相近标准
* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。
- 标准质量:
- ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准,期待。
② 标准出现数据错误、过期或其它问题请点击下方「在线纠错」通知我们,感谢!
③ 本站资源均来源于互联网,仅供网友学习交流,若侵犯了您的权益,请联系我们予以删除。
下载说明
「相关推荐」
- 1 SJ 21147.5-2016 军用集成电路电磁发测量方法 第5部分:传导发射测
- 2 SJ 21149-2016 军用综合移动通信系统同步技术要求
- 3 SJ 21150-2016 微波组件印制电路板设计指南
- 4 SJ 21151-2016 微波组件产品设计指南
- 5 SJ 21152-2016 微波组件元器件选用指南
- 6 SJ 21153-2016 微波组件芯片安装工艺技术要求
- 7 SJ 21154-2016 微波组件元器件安装工艺技术要求
- 8 SJ 21155-2016 微波组件片式电阻器、电容器手工焊接工艺技术要求
- 9 SJ 21156-2016 微波组件Ω桥制作和安装工艺技术要求
- 10 SJ 21157-2016 微波组件连接线安装工艺技术要求
- 11 SJ 21158-2016 微波组件封盖工艺技术要求
- 12 SJ 21159-2016 微波组件激光封焊工艺技术要求