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SJ 21347-2018 低温器件与组件极低温度筛选试验方法

SJ 21347-2018 低温器件与组件极低温度筛选试验方法

SJ 21347-2018

行业标准-SJ 电子强制性
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标准SJ 21347-2018标准状态

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  2. 实施于：
  3. 废止

标准详情

  • 标准名称：低温器件与组件极低温度筛选试验方法
  • 标准号：SJ 21347-2018
    中国标准分类号：
  • 发布日期：2018-01-18
    国际标准分类号：17.020
  • 实施日期：2018-05-01
    技术归口：工业和信息化部电子第四研究院
  • 代替标准：
    主管部门：
  • 标准分类：计量学和测量、物理现象SJ 电子

内容简介

本标准规定了低温器件与组件极低温度筛选试验方法的一般要求和详细要求。本标准适用于低温器件与组件的极低温度筛选试验方法。

起草单位

中国电子科技集团公司第十六研究所

起草人

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