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SJ/T 11845.3-2022 基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第3部分:二极管

SJ/T 11845.3-2022 基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第3部分:二极管

SJ/T 11845.3-2022

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标准详情

  • 标准名称:基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第3部分:二极管
  • 标准号:SJ/T 11845.3-2022
    中国标准分类号:L41
  • 发布日期:2022-10-20
    国际标准分类号:31.080.10
  • 实施日期:2023-01-01
    技术归口:工业和信息化部
  • 代替标准:
    主管部门:工业和信息化部
  • 标准分类:电子学半导体分立器件二极管SJ 电子

内容简介

行业标准《基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第3部分:二极管》,主管部门为工业和信息化部。本文件规定了用于稳压二极管(以下简称器件)可靠性评价的低频噪声参数、评价方法及方法应用。本文件适用于用于稳压二极管(以下简称器件)可靠性评价的低频噪声参数评价方法及方法应用。

起草单位

济南市半导体元件实验所、西安电子科技大学、工业和信息化部电子第五研究所、芜湖赛宝信息产业技术研究院有限公司、深圳市量为科技有限公司

起草人

郭美洋、包军林、余永涛、姜亚南、候秀萍、李兆成、孙立军

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