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SJ 20233-1993 IMPACT-Ⅱ型半导体分立器件测试系统检定规程

SJ 20233-1993 IMPACT-Ⅱ型半导体分立器件测试系统检定规程

SJ 20233-1993

行业标准-SJ 电子强制性
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标准SJ 20233-1993标准状态

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标准详情

  • 标准名称：IMPACT-Ⅱ型半导体分立器件测试系统检定规程
  • 标准号：SJ 20233-1993
    中国标准分类号：L00
  • 发布日期：1993-02-09
    国际标准分类号：31.080
  • 实施日期：1993-05-01
    技术归口：
  • 代替标准：
    主管部门：
  • 标准分类：电子学SJ 电子

内容简介

本检定规程规定了IMPACT-Ⅱ型半导体分立器件测试系统的检定条件、检定项目、检定方法、检定结果处理及检定周期。本检定规程适用于IMPACT-Ⅱ型半导体分立器件测试系统的检定。对于IMPACT-Ⅲ型半导体分立器件测试系统的检定。也可参照本规程进行。

起草单位

起草人

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