当前位置:标准网 行业标准

SJ/T 10552-1994 电子陶瓷用二氧化钛中杂质的发射光谱分析方法

SJ/T 10552-1994 电子陶瓷用二氧化钛中杂质的发射光谱分析方法

SJ/T 10552-1994

行业标准-SJ 电子推荐性
收藏报错

标准SJ/T 10552-1994标准状态

  1. 发布于:
  2. 实施于:
  3. 废止

标准详情

  • 标准名称:电子陶瓷用二氧化钛中杂质的发射光谱分析方法
  • 标准号:SJ/T 10552-1994
    中国标准分类号:L90
  • 发布日期:1994-08-08
    国际标准分类号:07.030
  • 实施日期:1994-12-01
    技术归口:
  • 代替标准:代替SJ 2320-1983被SJ/T 10552-2021代替
    主管部门:电子工业部
  • 标准分类:数学、自然科学SJ 电子

内容简介

行业标准《电子陶瓷用二氧化钛中杂质的发射光谱分析方法》,主管部门为电子工业部。本标准适用于电子陶瓷用二氧化钛中所含铁、硅、磷、钙、镁、铝和锑的氧化物杂质的测定。

起草单位

起草人

王玉功、刘承钧、罗绍常、王秀文、李国喜

相近标准

SJ/T 10551-1994 电子陶瓷用三氧化二铝中杂质的发射光谱分析方法
SJ/T 10553-1994 电子陶瓷用二氧化锆中杂质的发射光谱分析方法
SJ/T 10626-1995 键合金丝中微量杂质的ICP发射光谱分析方法
SJ/T 10633-1995 电子陶瓷原材料氧化铝中杂质的原子吸收分光光度测定法
YB/T 4590-2017 硅材料用高纯石墨制品中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法
YS/T 1164-2016 硅材料用高纯石英制品中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法
JC/T 2133-2012 半导体抛光液用硅溶胶中杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
YS/T 362-2006 纯钯中杂质元素的发射光谱分析
YS/T 364-2006 纯铱中杂质元素的发射光谱分析

* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。

  • 标准质量:
  • 下载说明

  • ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准,期待。
    ② 标准出现数据错误、过期或其它问题请点击下方「在线纠错」通知我们,感谢!
    ③ 本站资源均来源于互联网,仅供网友学习交流,若侵犯了您的权益,请联系我们予以删除。