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SJ/T 10705-1996 半导体器件键合丝表面质量检验方法

SJ/T 10705-1996 半导体器件键合丝表面质量检验方法

SJ/T 10705-1996

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  • 标准名称：半导体器件键合丝表面质量检验方法
  • 标准号：SJ/T 10705-1996
    中国标准分类号：L90
  • 发布日期：1996-07-22
    国际标准分类号：31.080
  • 实施日期：1996-11-01
    技术归口：电子工业部标准化研究所
  • 代替标准：
    主管部门：电子工业部
  • 标准分类：电子学SJ 电子

内容简介

行业标准《半导体器件键合丝表面质量检验方法》，主管部门为电子工业部。本标准规定了半导体器件键合丝表面质量检验方法。本标准适用于各种键合丝表面质量的检验。

起草单位

电子工业部第四十六研究所

起草人

齐芸馨、姜春香、段曙光

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