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SJ/T 11212-1999 石英晶体元件参数的测量第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量

SJ/T 11212-1999

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标准SJ/T 11212-1999标准状态

发布于：1999-08-26
实施于：1999-12-01
废止

标准详情

标准名称：石英晶体元件参数的测量第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量
标准号：SJ/T 11212-1999
中国标准分类号：L10
发布日期：1999-08-26
国际标准分类号：31.020
实施日期：1999-12-01
技术归口：电子工业部标准化研究所
代替标准：
主管部门：信息产业部
标准分类：电子学 SJ 电子

内容简介

行业标准《石英晶体元件参数的测量第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量》，主管部门为信息产业部。本标准适用于石英晶体元件激励电平相关性(DLD)的测量。本标准规定两种试验方法。方法A，以SJ/Z9154．1-1987的π型网络为基础，适用于该标准所覆盖的整个频率范围。方法B，是振荡器法，适用于固定条件下大批量基频石英晶体元件的测量。

起草单位

电子工业部标准化研究所

起草人

邓鹤松、章怡、宋佩钰、边一林

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