SJ/T 11207-1999 钇铁石榴石单晶磁性薄膜磁特性的测量方法_标准下载

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SJ/T 11207-1999 钇铁石榴石单晶磁性薄膜磁特性的测量方法

SJ/T 11207-1999

行业标准-SJ 电子推荐性

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标准SJ/T 11207-1999标准状态

发布于：1999-08-26
实施于：1999-12-01
废止

标准详情

标准名称：钇铁石榴石单晶磁性薄膜磁特性的测量方法
标准号：SJ/T 11207-1999
中国标准分类号：L19
发布日期：1999-08-26
国际标准分类号：29.100
实施日期：1999-12-01
技术归口：
代替标准：
主管部门：信息产业部
标准分类：电气工程 SJ 电子

内容简介

行业标准《钇铁石榴石单晶磁性薄膜磁特性的测量方法》，主管部门为信息产业部。本标准规定了频率为10GHz下的钇铁石榴石(YIG)单晶磁性薄膜材料的铁磁共振线宽△H、立方磁各向异性常数K|(1)、单轴磁各向异性常数K|(u)、旋磁比y和饱和磁化强度M|(2)的测量方法。本标准适用于液相外延生长的具有立方晶体结构的单晶铁氧体薄膜材料的测量。

起草单位

华中理工大学

起草人

周世昌、攀林慧、刘玳珩、贺洪波、赵振声

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