SJ 2028.1-1983 MZ11型补偿用正温度系数热敏电阻器
SJ 2028.1-1983
行业标准-SJ 电子强制性收藏报错
标准SJ 2028.1-1983标准状态
- 发布于:1983-02-24
- 实施于:1983-10-01
- 废止
内容简介
起草单位
起草人
相近标准
SJ2029-1982可见光光敏电阻器总技术条件
SJ2030-1982MG41型密封硫化镉光敏电阻器
SJ2031-1982MG24型密封硫化镉光敏电阻器
SJ2214.1-1982半导体光敏管测试方法总则
SJ2214.10-1982半导体光敏二、三极管光电流的测试方法
SJ2214.2-1982半导体光敏二极管正向压降的测试方法
SJ2214.3-1982半导体光敏二极管暗电流的测试方法
SJ2214.4-1982半导体光敏二极管反向击穿电压的测试方法
SJ2214.5-1982半导体光敏二极管结电容的测试方法
SJ2214.6-1982半导体光敏三极管集电极-发射极反向击穿电压的测试方法
* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。
- 标准质量:
- ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准,期待。
② 标准出现数据错误、过期或其它问题请点击下方「在线纠错」通知我们,感谢!
③ 本站资源均来源于互联网,仅供网友学习交流,若侵犯了您的权益,请联系我们予以删除。
下载说明
「相关推荐」
- 1 SJ 2126-1982 波纹管联轴节
- 2 SJ 2125-1982 十字滑块联轴节
- 3 SJ 2168-1982 涂覆用环氧粉末
- 4 SJ 2154-1982 薄膜集成电路用微晶玻璃基片
- 5 SJ 2152-1982 烧结含油轴承
- 6 SJ 2148-1982 硅稳流三极管动态阻抗的测试方法
- 7 SJ 2197-1982 地面用标准硅太阳电池的标定
- 8 SJ 2196-1982 地面用硅太阳电池电性能测试方法
- 9 SJ 2179-1982 压电滤波器术语和定义
- 10 SJ 2170-1982 一般电子产品运输包装基本试验方法.总则
- 11 SJ 2098-1982 CS41型N沟道结型场效应小功率半导体开关三极管
- 12 SJ 2097-1982 CS40型N沟道结型场效应小功率半导体开关三极管