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SJ 2215.6-1982 半导体光耦合器（二极管）结电容的测试方法

SJ 2215.6-1982 半导体光耦合器（二极管）结电容的测试方法

SJ 2215.6-1982

行业标准-SJ 电子强制性
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  • 标准名称：半导体光耦合器（二极管）结电容的测试方法
  • 标准号：SJ 2215.6-1982
    中国标准分类号：L50
  • 发布日期：1982-11-30
    国际标准分类号：31.260
  • 实施日期：1983-07-01
    技术归口：
  • 代替标准：被SJ/T 2215-2015代替
    主管部门：
  • 标准分类：广播电子学技术管理通信SJ 电子广播综合

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起草人

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