SJ 2354.8-1983 PIN、雪崩光电二极管脉冲上升、下降时间的测试方法
SJ 2354.8-1983
行业标准-SJ 电子强制性收藏报错
标准SJ 2354.8-1983标准状态
- 发布于:1983-08-15
- 实施于:1984-07-01
- 废止
内容简介
起草单位
起草人
相近标准
SJ2355.1-1983半导体发光器件测试方法总则
SJ2355.2-1983半导体发光器件测试方法正向压降的测试方法
SJ2355.3-1983半导体发光器件测试方法反向电流的测试方法
SJ2355.4-1983半导体发光器件测试方法结电容的测试方法
SJ2355.5-1983半导体发光器件测试方法法向光强和半强度角的测试方法
SJ2355.6-1983半导体发光器件测试方法光通量的测试方法
SJ2355.7-1983半导体发光器件测试方法发光峰值波长和光谱半宽度的测试方法
SJ2356-19833CD347型PNP硅低压低频大功率三极管
SJ2357-19833CD149、3CD150、3CD349型PNP硅低压低频大功率三极管
SJ2358-19833CD151、3CD152、3CD351型PNP硅低压低频大功率三极管
* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。
- 标准质量:
- ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准,期待。
② 标准出现数据错误、过期或其它问题请点击下方「在线纠错」通知我们,感谢!
③ 本站资源均来源于互联网,仅供网友学习交流,若侵犯了您的权益,请联系我们予以删除。
下载说明
「相关推荐」
- 1 SJ 2354.7-1983 PIN、雪崩光电二极管光谱响应曲线和光谱响应范围的
- 2 SJ 2354.6-1983 PIN、雪崩光电二极管响应度的测试方法
- 3 SJ 2355.4-1983 半导体发光器件测试方法.结电容的测试方法
- 4 SJ 2355.3-1983 半导体发光器件测试方法.反向电流的测试方法
- 5 SJ 2355.2-1983 半导体发光器件测试方法.正向压降的测试方法
- 6 SJ 2386-1983 干簧继电器总技术条件
- 7 SJ 2384-1983 GDB-221型光电倍增管
- 8 SJ 2354.11-1983 PIN、雪崩光电二极管列阵盲区宽度的测试方法
- 9 SJ 2354.10-1983 PIN、雪崩光电二极管列阵串光因子的测试方法
- 10 SJ 2354.1-1983 PIN、雪崩光电二极管光电参数测试方法.总则
- 11 SJ 2353-1983 SF-27型视象管
- 12 SJ 2354.2-1983 PIN、雪崩光电二极管反向击穿电压的测试方法