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SJ 2657-1986 钼的光谱分析方法

SJ 2657-1986 钼的光谱分析方法

SJ 2657-1986

行业标准-SJ 电子强制性
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标准SJ 2657-1986标准状态

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  • 标准名称：钼的光谱分析方法
  • 标准号：SJ 2657-1986
    中国标准分类号：L00
  • 发布日期：1986-01-21
    国际标准分类号：31.020
  • 实施日期：1986-10-01
    技术归口：电子工业部标准化研究所
  • 代替标准：
    主管部门：电子工业部
  • 标准分类：电子学技术管理综合标准化管理与一般规定SJ 电子

内容简介

本标准适用于电子器件、电光源用钼材（粉、坯、杆、丝、条、带）、三氧化钼（不加添加剂）、钼酸铵及钼酸中硅、铝、铁、钙、钴、镍、锰、镁、铅、钒、锡、钛、锑、镉等元素的测定。本标准适用于电子器件、电光源用钼材(粉、坯、杆、丝、条、带)、三氧化钼(不加添加剂)、钼酸铵及钼酸中硅、铝、铁、钙、钴、镍、锰、镁、铋、铅、钒、锡、钛、锑、镉等元素的测定。

起草单位

电子工业部741厂、774厂

起草人

李忠、王进学

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