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SJ 3249.4-1989 半绝缘砷化镓中ＥＬ２浓度的红外吸收测试方法

SJ 3249.4-1989 半绝缘砷化镓中ＥＬ２浓度的红外吸收测试方法

SJ 3249.4-1989

行业标准-SJ 电子强制性
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  • 标准名称：半绝缘砷化镓中ＥＬ２浓度的红外吸收测试方法
  • 标准号：SJ 3249.4-1989
    中国标准分类号：H80
  • 发布日期：2010-02-25
    国际标准分类号：29.045
  • 实施日期：1989-03-25
    技术归口：
  • 代替标准：
    主管部门：
  • 标准分类：电气工程技术管理综合标准化管理与一般规定SJ 电子

内容简介

本标准规定了半绝缘砷化镓中深施主浓度EI2的红外吸收测量原理、仪器设备、测量步骤、结果计算和精度。本标准适用于非掺杂半绝缘砷化镓中EI2浓度的测定，适用于试样厚度2～4mm。不适于测量掺铬半绝缘样品中的EL2浓度。

起草单位

起草人

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