SJ 20789-2000 MOS场效应晶体管热敏参数快速筛选试验方法
SJ 20789-2000
行业标准-SJ 电子强制性收藏报错
标准SJ 20789-2000标准状态
- 发布于：2000-10-20
- 实施于：2000-10-20
- 废止
内容简介
本规范规定了MOS场效应晶体管热敏参数快速筛选的试验方法。本规范适用于MOS场效应晶体管（以下简称电阻器）热敏参数快速筛选。本规范规定了MOS场效应晶体管热敏参数快速筛选的试验方法。本规范适用于MOS场效应晶体管热敏参数快速筛选。
起草单位
杭州电源技术研究所
起草人
叶奇放、易本健、赵英等
相近标准
SJ50033/115-1997半导体分立器件2CK28型硅大电流开关二极管详细规范
SJ50033/116-1997半导体分立器件2CK29型硅大电流开关二极管详细规范
SJ50033/117-1997半导体分立器件2CK38型硅大电流开关二极管详细规范
SJ50033/118-1997半导体分立器件2EK31型砷化镓开关二极管详细规范
SJ50033/119-1997半导体分立器件CS204型砷化镓微波功率场效应晶体管详细规范
SJ50033/120-1997半导体分立器件CS205型砷化镓微波功率场效应晶体管详细规范
SJ50033/121-1997半导体分立器件CS3458～CS3460型硅N沟道结型场效应晶体管详细规范
SJ50033/122-1997半导体分立器件CS3684～CS3687型硅N沟道结型场效应晶体管详细规范
SJ50033/123-1997半导体分立器件PIN62317型硅PIN大功率二极管详细规范
SJ50033/124-1997半导体分立器件PIN101～105型硅PIN大功率二极管详细规范
* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，版权归原作者所有，如侵犯您的权益，请联系我们处理。
- 标准质量：
- ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准，期待。
② 标准出现数据错误、过期或其它问题请点击下方「在线纠错」通知我们，感谢！
③ 本站资源均来源于互联网，仅供网友学习交流，若侵犯了您的权益，请联系我们予以删除。
下载说明
「相关推荐」
- 1 SJ 20820/7-2002 信息技术 小计算机系统接口(SCSI)-3基本命令层 第7部
- 2 SJ 20854-2002 数字视频光纤传输系统通用规范
- 3 SJ 20821-2002 激光棒单程损耗系数的测量方法
- 4 SJ 20853-2002 军用智能网独立智能外设与业务控制点及业务交换点
- 5 SJ 20820/9-2002 信息技术 小计算机系统接口(SCSI)-3基本命令层 第9部
- 6 SJ 20830-2002 铂硅红外焦平面探测器杜瓦组件.通用规范
- 7 SJ 1516-1979 KW1型微动开关
- 8 SJ 1515-1979 微动开关总技术条件
- 9 SJ 1521-1979 钮子开关总技术条件
- 10 SJ 1520-1979 KW5型微动开关
- 11 SJ 1475-1979 3CG113型PNP硅外延平面高频小功率三极管
- 12 SJ 1474-1979 3CG112型PNP硅外延平面高频小功率三极管
