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SJ 20788-2000 半导体二极管热阻抗测试方法

SJ 20788-2000 半导体二极管热阻抗测试方法

SJ 20788-2000

行业标准-SJ 电子强制性
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标准SJ 20788-2000标准状态

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标准详情

  • 标准名称：半导体二极管热阻抗测试方法
  • 标准号：SJ 20788-2000
    中国标准分类号：L40
  • 发布日期：2000-10-20
    国际标准分类号：31.080
  • 实施日期：2000-10-20
    技术归口：中国电子技术标准化研究所
  • 代替标准：
    主管部门：信息产业部
  • 标准分类：电子学SJ 电子

内容简介

本标准规定了半导体二极管的稳态热阻和瞬态热阻抗的测试方法。本标准适用于整流二极管、瞬态电压抑制二极管、功率齐纳二极管和某些齐纳、信号和开关二极管稳态热阻抗的测试。

起草单位

中国电子技术标准化研究所

起草人

王长福、顾振球、易本健

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