标准详情
- 标准名称:硅开关二极管反向击穿电压的测试方法
- 标准号:SJ 966-1975
- 中国标准分类号:L40
- 发布日期:1976-06-01
- 国际标准分类号:31.080
- 实施日期:2010-02-25
- 技术归口:
- 代替标准:
- 主管部门:第四机械工业部
- 标准分类:电子学半导体分立器件电子元器件与信息技术SJ 电子半导体二极管
本标准适用于硅开关二极管反向击穿电压的测试。测试反向击穿电压总的要求应符合SJ962-75.
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