标准详情
- 标准名称：非接触涡流法半导体晶片电阻率测试系统校准规范
- 标准号：JJF(电子)0072-2021
- 标准状态：现行
- 发布日期：2021-12-02
- 归口单位
- 实施日期：2021-12-02
- 发布部门：国家市场监督管理总局
- 代替标准：
- 标准类别：计量检定规程
- 文件格式：纸质版或者PDF电子版（用Acrobat Reader打开）或Word版本doc格式
JJF(电子)0072-2021 非接触涡流法半导体晶片电阻率测试系统校准规范
标准JJF(电子)0072-2021标准状态
- 发布于：2021-12-02
- 实施于：2021-12-02
- 废止
内容简介
本本规范适用于测试范围在0.1Ω·CM~200.0Ω·CM(厚度100ΜM~1000ΜM)的非接触涡流法半导体晶片电阻率测试系统的校准。电阻率测试系统主要是利用无接触电涡流探头系统,检测由被测半导体晶片感应的涡流,辅以控制器进行信号处理完成对半导体晶片电阻率的无损测量。它主要由涡流探头、高频线圈和控制器等部分组成。
起草单位
起草人
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- 标准质量：
- 发布者资料：
- 摇头晃脑Sir
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