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T/CASAS 026-2023 碳化硅少数载流子寿命测定微波光电导衰减法

T/CASAS 026-2023 碳化硅少数载流子寿命测定微波光电导衰减法

T/CASAS 026-2023

团体标准推荐性现行

标准T/CASAS 026-2023标准状态

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标准详情

  • 标准名称:碳化硅少数载流子寿命测定微波光电导衰减法
  • 标准号:T/CASAS 026-2023
    中国标准分类号:C398
  • 发布日期:2023-06-19
    国际标准分类号:31-030
  • 实施日期:2023-06-19
    团体名称:北京第三代半导体产业技术创新战略联盟
  • 标准分类:C 制造业电子学

内容简介

本文件描述了用微波光电导法测定碳化硅少数载流子寿命的方法
本文件适用于少数载流子寿命为20ns~200μs的碳化硅晶片的寿命测定及质量评价

起草单位

山东大学、广州南砂晶圆半导体技术有限公司、瀚天天成电子科技(厦门)有限公司、广东天域半导体股份有限公司、泰科天润半导体科技(北京)有限公司、杭州海乾半导体有限公司、安徽长飞先进半导体有限公司、中国科学院半导体研究所、中电化合物半导体有限公司、北京第三代半导体产业技术创新战略联盟

起草人

杨祥龙、崔潆心、彭燕、徐现刚、来玲玲、于国建、冯淦、丁雄杰、秋琪、林云昊、赵海明、钮应喜、金向军、徐瑞鹏

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