当前位置:标准网 团体标准

T/CZSBDTHYXH 001-2023 半导体晶圆缺陷自动光学检测设备

T/CZSBDTHYXH 001-2023 半导体晶圆缺陷自动光学检测设备

T/CZSBDTHYXH 001-2023

团体标准推荐性
收藏 报错

标准T/CZSBDTHYXH 001-2023标准状态

  1. 发布于:
  2. 实施于:
  3. 废止

标准详情

  • 标准名称:半导体晶圆缺陷自动光学检测设备
  • 标准号:T/CZSBDTHYXH 001-2023
    中国标准分类号:C356
  • 发布日期:2023-08-08
    国际标准分类号:29.045
  • 实施日期:2023-08-09
    团体名称:常州市半导体行业协会
  • 标准分类:电气工程C 制造业

内容简介

本标准规定了半导体晶圆缺陷光学检测仪的术语和定义、产品型号、要求、检验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存要求。

起草单位

江苏维普光电科技有限公司、常州市半导体行业协会、国家半导体照明产品质量检验检测中心(江苏)(常州检验检测标准认证研究院)、常州工学院

起草人

刘建明、刘庄、张彦鹏、周佼、王宏才、郭魂、张鸣杰

* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。

  • 标准质量:
  • 下载说明

  • ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准,期待。
    ② 标准出现数据错误、过期或其它问题请点击下方「在线纠错」通知我们,感谢!
    ③ 本站资源均来源于互联网,仅供网友学习交流,若侵犯了您的权益,请联系我们予以删除。