GB/T 4937.3-2012 半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分:外部目检
GB/T 4937.3-2012
国家标准推荐性标准GB/T 4937.3-2012标准状态
- 发布于:2012-11-05
- 实施于:2013-02-15
- 废止
内容简介
国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分:外部目检》由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口,主管部门为工业和信息化部(电子)。
GB/T 4937的本部分的目的是验证半导体器件的材料、设计、结构、标志和工艺质量是否符合适用的采购文件的要求。外部目检是非破坏性试验,适用于所有的封装类型。本试验用于鉴定检验、过程监控、批接收。
起草单位
中国电子科技集团公司第十三研究所、
起草人
陈海蓉、 李丽霞、 崔波、
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