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GB/T 4937.3-2012 半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分:外部目检

GB/T 4937.3-2012 半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分:外部目检

Semiconductor devices - Mechanical and climatic tests methods - Part 3: External visual examination

GB/T 4937.3-2012

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标准GB/T 4937.3-2012标准状态

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  • 标准名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分:外部目检
  • 标准号:GB/T 4937.3-2012
    中国标准分类号:L40
  • 发布日期:2012-11-05
    国际标准分类号:31.080.01
  • 实施日期:2013-02-15
    技术归口:全国半导体器件标准化技术委员会
  • 代替标准:
    主管部门:工业和信息化部(电子)
  • 标准分类:电子学半导体分立器件半导体分立器件综合

内容简介

国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分:外部目检》由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口,主管部门为工业和信息化部(电子)。
GB/T 4937的本部分的目的是验证半导体器件的材料、设计、结构、标志和工艺质量是否符合适用的采购文件的要求。外部目检是非破坏性试验,适用于所有的封装类型。本试验用于鉴定检验、过程监控、批接收。

起草单位

中国电子科技集团公司第十三研究所、

起草人

陈海蓉、 李丽霞、 崔波、

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