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GB/T 14620-2013 薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片

GB/T 14620-2013 薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片

Alumina ceramic substrates for thin film integrated circuits

GB/T 14620-2013

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标准GB/T 14620-2013标准状态

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  • 标准名称：薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片
  • 标准号：GB/T 14620-2013
    中国标准分类号：L90
  • 发布日期：2013-11-12
    国际标准分类号：31.030
  • 实施日期：2014-04-15
    技术归口：工业和信息化部（电子）
  • 代替标准：代替GB/T 14620-1993
    主管部门：工业和信息化部（电子）
  • 标准分类：电子学电子技术专用材料

内容简介

国家标准《薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片》由339-1（工业和信息化部（电子））归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本标准规定了薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片的要求、测试方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。 本标准适用于薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片(以下简称“基片”）的生产和采购,采用薄膜工艺的片式元件用氧化铝陶瓷基片也可参照使用。

起草单位

中国电子技术标准化研究院、

起草人

曹易、 李晓英、

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