GB/T 5594.8-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第8部分：显微结构的测定方法_标准下载

GB/T 5594.8-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第8部分：显微结构的测定方法

Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device—Part 8: Test method for microstructure

GB/T 5594.8-2015

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标准GB/T 5594.8-2015标准状态

发布于：2015-05-15
实施于：2016-01-01
废止

标准详情

标准名称：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第8部分：显微结构的测定方法
标准号：GB/T 5594.8-2015
中国标准分类号：L90
发布日期：2015-05-15
国际标准分类号：31-030
实施日期：2016-01-01
技术归口：工业和信息化部（电子）
代替标准：代替GB/T 5594.8-1985
主管部门：工业和信息化部（电子）
标准分类：电子学电子技术专用材料

内容简介

国家标准《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第8部分：显微结构的测定方法》由339-1（工业和信息化部（电子））归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
GB/T 5594的本部分规定了氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定方法。本部分适用于氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定。本部分只涉及光学显微镜的测定内容和测定方法。

起草单位

中国电子科技集团公司第十二研究所、江苏常熟银洋陶瓷器件有限公司、中国电子技术标准化研究院、

起草人

江树儒、曹易、高永泉、翟文斌、

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