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GB/T 4937.1-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分: 总则

GB/T 4937.1-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分: 总则

Semiconductor devices―Mechanical and climatic test methods―Part 1: General

GB/T 4937.1-2006

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标准GB/T 4937.1-2006标准状态

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标准详情

  • 标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分: 总则
  • 标准号：GB/T 4937.1-2006
    中国标准分类号：L40
  • 发布日期：2006-08-23
    国际标准分类号：31.080.01
  • 实施日期：2007-02-01
    技术归口：全国半导体器件标准化技术委员会
  • 代替标准：代替GB/T 4937-1995,
    主管部门：工业和信息化部（电子）
  • 标准分类：电子学半导体分立器件半导体分立器件综合

内容简介

国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分: 总则》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本部分适用于半导体器件（分立器件和集成电路）并为GB/T 4937系列的其他部分建立通用准则。 当本部分与相应的详细规范有矛盾时，以详细规范为准。

起草单位

中国电子科技集团公司第十三研究所、

起草人

陈海蓉、 崔波、

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