GB/T 4937.3-2012 半导体器件机械和气候试验方法第3部分：外部目检_标准下载

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GB/T 4937.3-2012 半导体器件机械和气候试验方法第3部分：外部目检

Semiconductor devices - Mechanical and climatic tests methods - Part 3: External visual examination

GB/T 4937.3-2012

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标准GB/T 4937.3-2012标准状态

发布于：2012-11-05
实施于：2013-02-15
废止

标准详情

标准名称：半导体器件机械和气候试验方法第3部分：外部目检
标准号：GB/T 4937.3-2012
中国标准分类号：L40
发布日期：2012-11-05
国际标准分类号：31.080.01
实施日期：2013-02-15
技术归口：全国半导体器件标准化技术委员会
代替标准：
主管部门：工业和信息化部（电子）
标准分类：电子学半导体分立器件半导体分立器件综合

内容简介

国家标准《半导体器件机械和气候试验方法第3部分：外部目检》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
GB/T 4937的本部分的目的是验证半导体器件的材料、设计、结构、标志和工艺质量是否符合适用的采购文件的要求。外部目检是非破坏性试验,适用于所有的封装类型。本试验用于鉴定检验、过程监控、批接收。

起草单位

中国电子科技集团公司第十三研究所、

起草人

陈海蓉、李丽霞、崔波、

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