GB/T 4937.4-2012 半导体器件机械和气候试验方法第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）_标准下载

GB/T 4937.4-2012 半导体器件机械和气候试验方法第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)

GB/T 4937.4-2012

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标准GB/T 4937.4-2012标准状态

发布于：2012-11-05
实施于：2013-02-15
废止

标准详情

标准名称：半导体器件机械和气候试验方法第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）
标准号：GB/T 4937.4-2012
中国标准分类号：L40
发布日期：2012-11-05
国际标准分类号：31.080.01
实施日期：2013-02-15
技术归口：全国半导体器件标准化技术委员会
代替标准：
主管部门：工业和信息化部（电子）
标准分类：电子学半导体分立器件半导体分立器件综合

内容简介

国家标准《半导体器件机械和气候试验方法第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
GB/T 4937的本部分规定了强加速稳态湿热试验(HAST)方法,用于评价非气密封装半导体器件在潮湿的环境下的可靠性。

起草单位

中国电子科技集团公司第十三研究所、

起草人

李丽霞、陈海蓉、崔波、

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