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GB/T 14619-2013 厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片

GB/T 14619-2013 厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片

Alumina ceramic substrates for thick film integrated circuits

GB/T 14619-2013

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标准GB/T 14619-2013标准状态

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标准详情

  • 标准名称：厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片
  • 标准号：GB/T 14619-2013
    中国标准分类号：L90
  • 发布日期：2013-11-12
    国际标准分类号：31.030
  • 实施日期：2014-04-15
    技术归口：工业和信息化部（电子）
  • 代替标准：代替GB/T 14619-1993
    主管部门：工业和信息化部（电子）
  • 标准分类：电子学电子技术专用材料

内容简介

国家标准《厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片》由339-1（工业和信息化部（电子））归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本标准规定了厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片的要求、测试方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。本标准适用于厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片的生产和采购，采用厚膜工艺的片式元件用氧化铝陶瓷基片（以下简称基片）也可参照使用。

起草单位

中国电子技术标准化研究院、

起草人

曹易、 李晓英、

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