GB/T 17574.10-2003 半导体器件集成电路第2-10部分:数字集成电路集成电路动态读/写存储器空白详细规范_标准下载

GB/T 17574.10-2003 半导体器件集成电路第2-10部分:数字集成电路集成电路动态读/写存储器空白详细规范

Semiconductor devices--Integrated circuits--Part 2-10:Digital integrated circuits--Blank detail specification for integrated circuit dynamicread/write memories

GB/T 17574.10-2003

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标准GB/T 17574.10-2003标准状态

发布于：2003-11-24
实施于：2004-08-01
废止

标准详情

标准名称：半导体器件集成电路第2-10部分:数字集成电路集成电路动态读/写存储器空白详细规范
标准号：GB/T 17574.10-2003
中国标准分类号：L56
发布日期：2003-11-24
国际标准分类号：31.200
实施日期：2004-08-01
技术归口：全国半导体器件标准化技术委员会
代替标准：
主管部门：工业和信息化部（电子）
标准分类：电子学集成电路、微电子学

内容简介

国家标准《半导体器件集成电路第2-10部分:数字集成电路集成电路动态读/写存储器空白详细规范》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
IEC电子元器件质量评定体系遵循IEC的章程，并在IEC的授权下进行工作。该体系的目的是确定质量评定程序，以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子元器件无需进一步试验而为其他所有参加国同样接受。本空白详细规范是半导体器件的一系列空白详细规范之一，并且与下列标准一起使用。

起草单位

中国电子技术标准化研究所（CESI）、

起草人

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