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GB/T 30118-2013 声表面波（SAW）器件用单晶晶片规范与测量方法

GB/T 30118-2013 声表面波（SAW）器件用单晶晶片规范与测量方法

Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications―Specifications and measuring methods

GB/T 30118-2013

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  • 标准名称：声表面波（SAW）器件用单晶晶片规范与测量方法
  • 标准号：GB/T 30118-2013
    中国标准分类号：L21
  • 发布日期：2013-12-17
    国际标准分类号：31.140
  • 实施日期：2014-05-15
    技术归口：全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会
  • 代替标准：
    主管部门：工业和信息化部（电子）
  • 标准分类：电子学频率控制和选择用压电器件与介质器件

内容简介

国家标准《声表面波（SAW）器件用单晶晶片规范与测量方法》由TC182（全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本标准规定了人造石英、铌酸锂(LN)、钽酸锂(LT)、四硼酸锂(LBO)和硅酸鎵镧(LGS)等单晶晶片等。本标准适用于人造石英、铌酸锂(LN),钽酸锂(LT)、四硼酸锂(LBO)和硅酸鎵镧(LGS)等单晶晶片。这些单晶晶片用作声表面波(SAW)滤波器和谐振器等基片材料。

起草单位

中国电子科技集团公司第二十六研究所、北京石晶光电科技有限公司、中国电子科技集团德清华莹电子有限公司、

起草人

张小梅、 蒋春键、 赵雄章、 周洋舟、 吴兆刚、吴剑波、

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