GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路第5-3部分:光电子器件测试方法_标准下载

当前位置：标准网国家标准

GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路第5-3部分:光电子器件测试方法

Discrete semiconductor devices and integrated circuits--Part 5-3:Optoelectronic devices--Measuring methods

GB/T 15651.3-2003

国家标准推荐性

收藏报错

标准GB/T 15651.3-2003标准状态

发布于：2003-11-24
实施于：2004-08-01
废止

标准详情

标准名称：半导体分立器件和集成电路第5-3部分:光电子器件测试方法
标准号：GB/T 15651.3-2003
中国标准分类号：L50
发布日期：2003-11-24
国际标准分类号：31.260
实施日期：2004-08-01
技术归口：全国半导体器件标准化技术委员会
代替标准：
主管部门：工业和信息化部（电子）
标准分类：电子学光电子学、激光设备

内容简介

国家标准《半导体分立器件和集成电路第5-3部分:光电子器件测试方法》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本部分适用于光电子器件的测试方法，用于光纤系统或子系统的除外。

起草单位

华禹光谷股份有限公司半导体厂、

起草人

相近标准

GB/T 15651-1995 半导体器件分立器件和集成电路第5部分:光电子器件
20201543-T-339 半导体器件分立器件第15部分：绝缘功率半导体器件
GB/T 15651.2-2003 半导体分立器件和集成电路第5-2部分:光电子器件基本额定值和特性
GB/T 17573-1998 半导体器件分立器件和集成电路第1部分:总则
GB/T 15651.4-2017 半导体器件分立器件第5-4部分:光电子器件半导体激光器
20233066-T-339 半导体器件第3部分：分立器件信号、开关和调整二极管
20233151-T-339 半导体器件分立器件分规范
20232773-T-339 半导体器件第2部分:分立器件整流二极管
20233683-T-339 半导体器件第5-4部分：光电子器件半导体激光器
GB/T 4589.1-2006 半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范

* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，版权归原作者所有，如侵犯您的权益，请联系我们处理。

标准质量：

下载说明

① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准，期待。
② 标准出现数据错误、过期或其它问题请点击下方「在线纠错」通知我们，感谢！
③ 本站资源均来源于互联网，仅供网友学习交流，若侵犯了您的权益，请联系我们予以删除。

在线纠错

标准过期下载问题模糊有误其它问题