GB/T 31359-2015 半导体激光器测试方法
GB/T 31359-2015
国家标准推荐性标准GB/T 31359-2015标准状态
- 发布于:2015-02-04
- 实施于:2015-08-01
- 废止
内容简介
国家标准《半导体激光器测试方法》由TC284(全国光辐射安全和激光设备标准化技术委员会)归口,主管部门为中国机械工业联合会。
本标准规定了半导体激光器主要光电参数的测试方法。本标准适用于半导体激光器主要光电参数的测试。半导体激光器组件可参考执行。
起草单位
西安炬光科技有限公司、中国科学院半导体研究所、武汉华工正源光子技术有限公司、中国科学院西安光学精密机械研究所、北京国科世纪激光技术有限公司、中国电子科技集团公司第十三研究所、
起草人
刘兴胜、 赵卫、 杨军红、 马晓宇、 许国栋、张艳春、
相近标准
YD/T 1687.1-2007 光通信用高速半导体激光器组件技术条件 第1部分:2.5Gb/s致冷型直接调制半导体激光器组件
YD/T 1687.2-2007 光通信用高速半导体激光器组件技术条件 第2部分:2.5Gb/s无致冷型直接调制半导体激光器组件
20233683-T-339 半导体器件 第5-4部分:光电子器件 半导体激光器
GB/T 31358-2015 半导体激光器总规范
SJ/T 11402-2009 光纤通信用半导体激光器芯片技术规范
DB22/T 2725-2017 980 nm光纤光栅半导体激光器
GB/T 21548-2021 光通信用高速直接调制半导体激光器的测量方法
GB/T 15651.4-2017 半导体器件 分立器件 第5-4部分:光电子器件 半导体激光器
20232563-T-326 物料甲烷潜力测试方法
20231188-T-469 混合液晶测试方法
* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。
- 标准质量:
- ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准,期待。
② 标准出现数据错误、过期或其它问题请点击下方「在线纠错」通知我们,感谢!
③ 本站资源均来源于互联网,仅供网友学习交流,若侵犯了您的权益,请联系我们予以删除。
下载说明
「相关推荐」
- 1 GB/T 43972-2024 集成电路封装设备远程运维 状态监测
- 2 GB/T 43940-2024 4Mb/s数字式时分制指令/响应型多路传输数据总线测试
- 3 GB/T 44006-2024 红外图像温度表示规则 RGB法
- 4 GB/T 43965-2024 电子级正硅酸乙酯
- 5 GB/T 43978-2024 室内LED显示屏光舒适度评价要求
- 6 GB/T 43979-2024 室内LED显示屏光舒适度评价方法
- 7 GB/T 18910.41-2024 液晶显示器件 第4-1部分:彩色矩阵液晶显示模块
- 8 GB/T 43789.31-2024 电子纸显示器件 第3-1部分:光学性能测试方法
- 9 GB/T 15651.5-2024 半导体器件 第5-5部分:光电子器件 光电耦合器
- 10 GB/T 19247.6-2024 印制板组装 第6部分:球栅阵列(BGA)和盘栅阵列(
- 11 GB/T 4937.34-2024 半导体器件 机械和气候试验方法 第34部分:功率循
- 12 GB/T 4937.35-2024 半导体器件 机械和气候试验方法 第35部分:塑封电