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GB/T 42838-2023 半导体集成电路 霍尔电路测试方法

GB/T 42838-2023 半导体集成电路 霍尔电路测试方法

Semiconductor integrated circuits—Measuring method of Holzer circuit

GB/T 42838-2023

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标准GB/T 42838-2023标准状态

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  • 标准名称:半导体集成电路 霍尔电路测试方法
  • 标准号:GB/T 42838-2023
    中国标准分类号:L56
  • 发布日期:2023-08-06
    国际标准分类号:31.200
  • 实施日期:2023-12-01
    技术归口:全国集成电路标准化技术委员会
  • 代替标准:
    主管部门:工业和信息化部(电子)
  • 标准分类:电子学集成电路、微电子学

内容简介

国家标准《半导体集成电路 霍尔电路测试方法》由TC599(全国集成电路标准化技术委员会)归口,主管部门为工业和信息化部(电子)。
本文件规定了半导体集成电路霍尔电路(以下称为器件)电特性测试方法。本文件适用于半导体集成电路霍尔电路电特性的测试。

起草单位

中国电子技术标准化研究院、合肥美菱物联科技有限公司、东莞市国梦电机有限公司、南京中旭电子科技有限公司、北京微电子技术研究所、

起草人

尹航、 刘芳、 张帆、 刘德广、 何万海、唐食明、

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