当前位置：标准网 国家标准

GB/T 42839-2023 半导体集成电路 模拟数字（AD）转换器

GB/T 42839-2023 半导体集成电路 模拟数字（AD）转换器

Semiconductor integrated circuits—Analog digital（AD） converter

GB/T 42839-2023

国家标准推荐性
收藏 报错

标准GB/T 42839-2023标准状态

  1. 发布于：
  2. 实施于：
  3. 废止

标准详情

  • 标准名称：半导体集成电路 模拟数字（AD）转换器
  • 标准号：GB/T 42839-2023
    中国标准分类号：L56
  • 发布日期：2023-08-06
    国际标准分类号：31.200
  • 实施日期：2023-12-01
    技术归口：全国集成电路标准化技术委员会
  • 代替标准：
    主管部门：工业和信息化部（电子）
  • 标准分类：电子学集成电路、微电子学

内容简介

国家标准《半导体集成电路 模拟数字（AD）转换器》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本文件规定了模拟数字（AD）转换器（以下简称AD转换器或ADC）的分类、技术要求、检验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。本文件适用于采用半导体集成电路T.艺设计制造的AD转换器。

起草单位

中国电子技术标准化研究院、成都华微电子科技股份有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、四川翊晟芯科信息技术有限公司、中国科学院半导体研究所、惠阳东亚电子制品有限公司、杭州电子科技大学、成都振芯科技股份公司、中国电子科技集团公司第二十四研究所、北京芯可鉴科技有限公司、广东伟照业光电节能有限公司、杭州万高科技股份有限公司、

起草人

李锟、 邢浩、 王会影、 张涛、 钟明琛、 李文昌、 林玲、 隋春娟、 张驰、李大刚、雷郎成、谢红建、董鸿亮、王永军、

相近标准

GB/T 42973-2023 半导体集成电路 数字模拟（DA）转换器
GB/T 18500.2-2001 半导体器件 集成电路 第4部分:接口集成电路 第二篇:线性模拟/数字转换器(ADC)空白详细规范
GB/T 18500.1-2001 半导体器件 集成电路 第4部分:接口集成电路 第一篇:线性数字/模拟转换器(DAC)空白详细规范
SJ/T 10804-2000 半导体集成电路 电平转换器测试方法的基本原理
SJ/T 10252-1991 半导体集成电路CB7660型CMOS电源电压转换器详细规范
GB/T 35006-2018 半导体集成电路 电平转换器测试方法
GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路
SJ/T 10254-1991 半导体集成电路CB301型CMOS模拟开关详细规范
SJ/T 10250-1991 半导体集成电路CB565型模拟锁相环详细规范
GB/T 14028-2018 半导体集成电路 模拟开关测试方法

* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，版权归原作者所有，如侵犯您的权益，请联系我们处理。

  • 标准质量：

    • 下载说明

  • ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准，期待。
    ② 标准出现数据错误、过期或其它问题请点击下方「在线纠错」通知我们，感谢！
    ③ 本站资源均来源于互联网，仅供网友学习交流，若侵犯了您的权益，请联系我们予以删除。
  • 在线纠错
    • 标准过期 下载问题 模糊有误 其它问题

    「相关推荐」