GB/T 42848-2023 半导体集成电路直接数字频率合成器测试方法_标准下载

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GB/T 42848-2023 半导体集成电路直接数字频率合成器测试方法

Semiconductor intergrated circuits—Test method of direct digital frequency synthesizer

GB/T 42848-2023

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标准GB/T 42848-2023标准状态

发布于：2023-08-06
实施于：2023-12-01
废止

标准详情

标准名称：半导体集成电路直接数字频率合成器测试方法
标准号：GB/T 42848-2023
中国标准分类号：L56
发布日期：2023-08-06
国际标准分类号：31.200
实施日期：2023-12-01
技术归口：全国集成电路标准化技术委员会
代替标准：
主管部门：工业和信息化部（电子）
标准分类：电子学集成电路、微电子学

内容简介

国家标准《半导体集成电路直接数字频率合成器测试方法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本文件规定了半导体集成电路中直接数字频率合成器（以下简称“器件”）电特性的通用测试方法。本文件适用于单通道及多通道直接数字频率合成器电路的测试。

起草单位

成都振芯科技股份有限公司、中国电子技术标准化研究院、

起草人

何善亮、蒲佳、范超、吴淼、杨阳、刘纪祖、王可、李锟、

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