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GB/T 42975-2023 半导体集成电路 驱动器测试方法

GB/T 42975-2023 半导体集成电路 驱动器测试方法

Semiconductor integrated circuits—Test method of driver device

GB/T 42975-2023

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标准GB/T 42975-2023标准状态

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  • 标准名称：半导体集成电路 驱动器测试方法
  • 标准号：GB/T 42975-2023
    中国标准分类号：L56
  • 发布日期：2023-09-07
    国际标准分类号：31.200
  • 实施日期：2024-01-01
    技术归口：全国集成电路标准化技术委员会
  • 代替标准：
    主管部门：工业和信息化部（电子）
  • 标准分类：电子学集成电路、微电子学

内容简介

国家标准《半导体集成电路 驱动器测试方法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本文件规定了半导体集成电路驱动器（以下简称器件）的电特性测试方法的基本原理和测试程序。本文件适用于74/54系列驱动器、总线驱动器、PIN开关驱动器、达林顿驱动器、时钟驱动器、 LVDS驱动器、MOSFET驱动器和差分驱动器等各种半导体工艺制造的驱动器的电性能测试。其他类 别驱动器的测试参考使用。

起草单位

中国电子技术标准化研究院、安徽大华半导体科技有限公司、广东省中绍宣标准化技术研究院有限公司、中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所、中国电子科技集团公司第二十四研究所、中国电子科技集团公司第十三研究所、中国电子科技集团公司第五十八研究所、成都振芯科技股份有限公司、

起草人

刘芳、 周俊、 刘凡、 霍玉柱、 梁希、 王会影、 杨晓强、纵雷、林瑜攀、陆坚、

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