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GB/T 43063-2023 集成电路 CMOS图像传感器测试方法

GB/T 43063-2023 集成电路 CMOS图像传感器测试方法

Integrated circuit—Test method for CMOS image sensors

GB/T 43063-2023

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标准GB/T 43063-2023标准状态

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  • 标准名称：集成电路 CMOS图像传感器测试方法
  • 标准号：GB/T 43063-2023
    中国标准分类号：L54
  • 发布日期：2023-09-07
    国际标准分类号：31.200
  • 实施日期：2024-01-01
    技术归口：全国集成电路标准化技术委员会
  • 代替标准：
    主管部门：工业和信息化部（电子）
  • 标准分类：电子学集成电路、微电子学

内容简介

国家标准《集成电路 CMOS图像传感器测试方法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本文件描述了具有线性光电响应特性的线阵、而阵和时间延迟积分（TDI）CMOS图像传感器（以下简称器件）参数及其测试方法。本文件适用于具有线性光电响应特性的线阵、面阵和TDI器件参数测试。

起草单位

中国科学院长春光学精密机械与物理研究所、天津大学、中国电子技术标准化研究院、重庆光电技术研究所、长春精测光电技术有限公司、深圳佑驾创新科技有限公司、

起草人

李俊霖、 张涛、 赵宇、 聂真威、 马洪涛、 卢岩、 唐延甫、 聂凯明、 马悦、 刘国清、 兰太吉、杨永强、韩冰、金辉、徐江涛、刘昌举、李金、高志远、王琪、刘秀娟、

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