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GB/T 13387-2009 硅及其它电子材料晶片参考面长度测量方法

GB/T 13387-2009 硅及其它电子材料晶片参考面长度测量方法

Test method for measuring flat length wafers of silicon and other electronic materials

GB/T 13387-2009

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标准GB/T 13387-2009标准状态

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  • 标准名称：硅及其它电子材料晶片参考面长度测量方法
  • 标准号：GB/T 13387-2009
    中国标准分类号：H80
  • 发布日期：2009-10-30
    国际标准分类号：29.045
  • 实施日期：2010-06-01
    技术归口：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
  • 代替标准：代替GB/T 13387-1992
    主管部门：国家标准化管理委员会
  • 标准分类：电气工程半导体材料

内容简介

国家标准《硅及其它电子材料晶片参考面长度测量方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。
u3000u3000基准面长度对于半导体加工过程中使用材料的适应性是一项重要的参数。晶片自动操作设备被广泛应用于半导体制造业中，它们是通过晶片主参考面识别和定位获得正确的对准。

起草单位

有研半导体材料股份有限公司、

起草人

杜娟、 孙燕、 卢立延、

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