GB/T 43035-2023 半导体器件集成电路第20部分：膜集成电路和混合膜集成电路总规范第一篇：内部目检要求_标准下载

GB/T 43035-2023 半导体器件集成电路第20部分：膜集成电路和混合膜集成电路总规范第一篇：内部目检要求

Semiconductor devices—Integrated circuits—Part 20: Generic specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits—Section 1: Requirements for internal visual examination

GB/T 43035-2023

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标准GB/T 43035-2023标准状态

发布于：2023-09-07
实施于：2023-09-07
废止

标准详情

标准名称：半导体器件集成电路第20部分：膜集成电路和混合膜集成电路总规范第一篇：内部目检要求
标准号：GB/T 43035-2023
中国标准分类号：L57
发布日期：2023-09-07
国际标准分类号：31.200
实施日期：2023-09-07
技术归口：全国集成电路标准化技术委员会
代替标准：
主管部门：工业和信息化部（电子）
标准分类：电子学集成电路、微电子学

内容简介

国家标准《半导体器件集成电路第20部分：膜集成电路和混合膜集成电路总规范第一篇：内部目检要求》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本文件的目的是检查膜集成电路和混合膜集成电路（FICs和HFICs，以下简称器件）内部的材料、结构和制造工艺。通常在封帽或包封前进行该项检验，从而找出并剔除带有内部缺陷的器件。这种缺陷会导致器件在正常应用中失效。其他的验收准则应与购买商或供应商商定。

起草单位

中国电子科技集团公司第四十三研究所、中国电子技术标准化研究院、

起草人

王婷婷、呂红杰、李林森、雷剑、冯玲玲、王琪、张亚娟、

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