当前位置：标准网 国家标准

GB/T 4937.26-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第26部分：静电放电（ESD）敏感度测试 人体模型（HBM）

GB/T 4937.26-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第26部分：静电放电（ESD）敏感度测试 人体模型（HBM）

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing—Human body model（HBM）

GB/T 4937.26-2023

国家标准推荐性
收藏 报错

标准GB/T 4937.26-2023标准状态

  1. 发布于：
  2. 实施于：
  3. 废止

标准详情

  • 标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第26部分：静电放电（ESD）敏感度测试 人体模型（HBM）
  • 标准号：GB/T 4937.26-2023
    中国标准分类号：L40
  • 发布日期：2023-09-07
    国际标准分类号：31.080.01
  • 实施日期：2024-04-01
    技术归口：全国半导体器件标准化技术委员会
  • 代替标准：
    主管部门：工业和信息化部（电子）
  • 标准分类：电子学半导体分立器件半导体分立器件综合

内容简介

国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第26部分：静电放电（ESD）敏感度测试 人体模型（HBM）》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本文件依据元器件和微电路对规定的人体模型（HBM）静电放电（ESD）所造成损伤或退化的敏感度，建立了元器件和微电路的ESD测试、评价和分级程序。本文件的目的是建立一种能够复现HBM失效的测试方法，并为不同类型的元器件提供可靠、可重复的HBM ESD测试结果，且测试结果不因测试设备而改变。重复性数据可以保证HBMESD敏感度等级的准确划分及对比。半导体器件的ESD测试从本测试方法、机器模型（MM）测试方法（见IEC 60749-27）或IEC 60749（所有部分）中的其他ESD测试方法中选择。除另有规定外，本测试方法为所选方法。

起草单位

中国电子科技集团公司第十三研究所、安徽荣创芯科自动化设备制造有限公司、河北中电科航检测技术服务有限公司、佛山市川东磁电股份有限公司、河北北芯半导体科技有限公司、北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司、捷捷半导体有限公司、

起草人

高蕾、 张魁、 翟玉颖、 彭浩、 黄杰、 赵鹏、 黎重林、 颜天宝、 鲁世斌、迟雷、高金环、张瑞霞、徐昕、魏兵、金哲、

相近标准

20231876-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第28部分：静电放电（ESD）敏感度测试 充电模型（CDM） 器件级
GB/T 4937.27-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第27部分：静电放电（ESD）敏感度测试 机器模型（MM）
HB 6167.26-2014(2017) 民用飞机机载设备环境条件和试验方法 第26部分：静电放电试验
20193137-T-339 光伏组件用旁路二极管静电放电敏感度测试
20204840-T-339 静电放电敏感度试验 传输线脉冲 器件级
20201540-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第10部分：机械冲击
20162479-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第34部分：功率循环
20193134-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第8部分：密封
20141818-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第25部分:温度循环
20201547-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第29部分：闩锁试验

* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，版权归原作者所有，如侵犯您的权益，请联系我们处理。

  • 标准质量：

    • 下载说明

  • ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准，期待。
    ② 标准出现数据错误、过期或其它问题请点击下方「在线纠错」通知我们，感谢！
    ③ 本站资源均来源于互联网，仅供网友学习交流，若侵犯了您的权益，请联系我们予以删除。
  • 在线纠错
    • 标准过期 下载问题 模糊有误 其它问题

    「相关推荐」