GB/T 43087-2023 微束分析分析电子显微术层状材料截面像中界面位置的确定方法_标准下载

GB/T 43087-2023 微束分析分析电子显微术层状材料截面像中界面位置的确定方法

Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials

GB/T 43087-2023

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标准GB/T 43087-2023标准状态

发布于：2023-09-07
实施于：2024-04-01
废止

标准详情

标准名称：微束分析分析电子显微术层状材料截面像中界面位置的确定方法
标准号：GB/T 43087-2023
中国标准分类号：N33
发布日期：2023-09-07
国际标准分类号：71.040.50
实施日期：2024-04-01
技术归口：全国微束分析标准化技术委员会
代替标准：
主管部门：国家标准化管理委员会
标准分类：化工技术分析化学物理化学分析方法

内容简介

国家标准《微束分析分析电子显微术层状材料截面像中界面位置的确定方法》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。
本文件规定了用层状材料截面像所记录的两种不同材料之间平均界面位置的测定方法。本文件适用于透射电子显微镜（TEM）或扫描透射电子显微镜（STEM）所记录的层状材料截面像和X射线能谱仪（EDS）或者电子能量损失谱仪（EELS）所记录的截面元素面分布图。也适用于由数码相机、电脑存储器和成像板图像传感器所采集的数字像以及胶片记录的模拟像经扫描仪转换的数字像。本文件不适用于测定多层模拟法（MSS）获得的界而位置。

起草单位

北京科技大学、

起草人

权茂华、柳得橹、

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