标准详情
- 标准名称:黄金制品的扫描电镜X射线能谱分析方法
- 标准号:GB/T 17362-2008
- 中国标准分类号:N53
- 发布日期:2008-09-18
- 国际标准分类号:71.040.99
- 实施日期:2009-05-01
- 技术归口:全国微束分析标准化技术委员会
- 代替标准:代替GB/T 17362-1998,GB/T 17723-1999
- 主管部门:国家标准化管理委员会
- 标准分类:化工技术分析化学有关分析化学的其他标准
国家标准《黄金制品的扫描电镜X射线能谱分析方法》由TC38(全国微束分析标准化技术委员会)归口,主管部门为国家标准化管理委员会。
本标准规定了用配置在扫描电镜上的X射线能谱仪对黄金制品化学成分进行无损定量分析的方法和技术要求。本标准适用于各种纯金制品和K金制品化学成分的测定,也适用于各种镀金、包金、锻压金等制品表面含金层厚度为0.2μm以上,3μm以下的表面层化学成分无损测定。本标准适用于黄金制品中质量分数在0.1%~100%的元素定量分析。本标准也适用于配置在电子控针分析仪上的X射线能谱仪对黄金制品的分析。
北京有色金属研究总院、北京钢铁研究总院、核工业总公司北京地质研究院、
刘安生、 张宜、 毛允静、
20232750-T-469 X射线光电子能谱分析方法通则
GA/T 1418-2017 法庭科学玻璃物证的元素成分检验 扫描电镜/能谱法
20232364-T-469 表面化学分析 电子能谱 X射线光电子能谱分析中X射线致材料非预期损伤的识别、评估和校正程序
20214943-T-469 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 测定峰强度的方法和报告结果所需的信息
GB/T 25189-2010 微束分析 扫描电镜能谱仪定量分析参数的测定方法
GB/T 41073-2021 表面化学分析 电子能谱 X射线光电子能谱峰拟合报告的基本要求
SJ/T 10714-1996 检查X射线光电子能谱仪工作特性的标准方法
GB/T 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
SJ/T 10458-1993 俄歇电子能谱术语和X射线光电子谱术语的样品处理标准导则
GB/T 21006-2007 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性
* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。