GB/T 44075-2024 纳米技术表面增强拉曼固相基片均匀性测量拉曼成像分析法_标准下载

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GB/T 44075-2024 纳米技术表面增强拉曼固相基片均匀性测量拉曼成像分析法

Nanotechnology—Determination of the uniformity of SERS solid substrate—Raman mapping analysis

GB/T 44075-2024

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标准GB/T 44075-2024标准状态

发布于：2024-05-28
实施于：2024-12-01
废止

标准详情

标准名称：纳米技术表面增强拉曼固相基片均匀性测量拉曼成像分析法
标准号：GB/T 44075-2024
中国标准分类号：A42
发布日期：2024-05-28
国际标准分类号：17.040.20
实施日期：2024-12-01
技术归口：全国纳米技术标准化技术委员会
代替标准：
主管部门：中国科学院
标准分类：计量学和测量、物理现象长度和角度测量表面特征

内容简介

国家标准《纳米技术表面增强拉曼固相基片均匀性测量拉曼成像分析法》由TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口，主管部门为中国科学院。
本文件描述了使用拉曼光谱成像分析法测量表面增强拉曼固相基片均匀性的方法，包括方法概要、仪器设备、试剂和材料、测试过程及测试报告等。
本文件适用于SERS固相基片均匀性测量。

起草单位

苏州纳微科技有限公司、苏州大学、中国检验检疫科学研究院、苏州市计量测试院、中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所、江苏菲沃泰纳米科技股份有限公司、

起草人

郭清华、朱建荣、方丹、姜江、王震、姚建林、袁亚仙、席广成、卢荻、

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