标准详情
- 标准名称:光学和光子学 光学薄膜 第4部分:规定的试验方法
- 标准号:GB/T 26332.4-2015
- 中国标准分类号:N30
- 发布日期:2015-12-10
- 国际标准分类号:17.180
- 实施日期:2016-07-01
- 技术归口:中国机械工业联合会
- 代替标准:
- 主管部门:中国机械工业联合会
- 标准分类:计量学和测量、物理现象光学和光学测量
国家标准《光学和光子学 光学薄膜 第4部分:规定的试验方法》由604-1(中国机械工业联合会)归口,TC103SC5(全国光学和光子学标准化技术委员会光学材料和元件分会)执行,主管部门为中国机械工业联合会。
GB/T26332规定了在光学元器件及基片表面镀制的光学薄膜的应用功能分类、技术指标的标准表述形式、常规特性及试验测量方法,但不拟用于规定镀制方法。 本部分规定了在GB/T 26332.3中提到的光学薄膜环境适应性试验方法,这些方法在GB/T12085—2010标准中没有描述。这些方法通常与 GB/T26332.3—2015附录 A 中的测试方法组成试验序列共同使用。 本部分不适用于眼科光学(眼镜)的光学薄膜。
沈阳仪表科学研究院有限公司、浙江大学、沈阳汇博光学公司、国家仪器仪表元器件质量监督检验中心、同济大学、大连化学物理研究所、杭州科汀光学技术有限公司、
王瑞生、 费书国、 程鑫彬、 赵帅锋、 阴晓俊、王占山、
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