GB/T 14028-2018 半导体集成电路模拟开关测试方法_标准下载

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GB/T 14028-2018 半导体集成电路模拟开关测试方法

Semiconductor integrated circuits—Measuring method of analogue switch

GB/T 14028-2018

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标准GB/T 14028-2018标准状态

发布于：2018-03-15
实施于：2018-08-01
废止

标准详情

标准名称：半导体集成电路模拟开关测试方法
标准号：GB/T 14028-2018
中国标准分类号：L56
发布日期：2018-03-15
国际标准分类号：31.200
实施日期：2018-08-01
技术归口：全国集成电路标准化技术委员会
代替标准：代替GB/T 14028-1992
主管部门：工业和信息化部（电子）
标准分类：电子学集成电路、微电子学

内容简介

国家标准《半导体集成电路模拟开关测试方法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本标准规定了双极、MOS、结型场效应半导体集成电路模拟开关（以下称为器件）参数测试方法。本标准适用于半导体集成电路模拟开关，也适用于多路转换器参数的测试。

起草单位

中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所、西北工业大学、圣邦微电子股份有限公司、

起草人

张冰、李雷、朱华、黄德东、陈志培、闫辉、

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