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GB/T 35007-2018 半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法

GB/T 35007-2018 半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法

Semiconductor integrated circuits—Measuring method of low voltage differential signaling circuitry

GB/T 35007-2018

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标准GB/T 35007-2018标准状态

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  • 标准名称：半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法
  • 标准号：GB/T 35007-2018
    中国标准分类号：L56
  • 发布日期：2018-03-15
    国际标准分类号：31.200
  • 实施日期：2018-08-01
    技术归口：全国集成电路标准化技术委员会
  • 代替标准：
    主管部门：工业和信息化部（电子）
  • 标准分类：电子学集成电路、微电子学

内容简介

国家标准《半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本标准规定了半导体集成电路低电压差分信号（LVDS,low voltage differential signaling）电路（以下称为“器件”）静态参数、动态参数测试方法的基本原理。本标准适用于低电压差分信号电路静态参数、动态参数的测试。

起草单位

成都振芯科技股份有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、深圳市众志联合电子有限公司、工业和信息化部电子工业标准化研究院、深圳市国微电子有限公司、中国电子科技集团公司第二十九研究所、

起草人

陈雁、 罗彬、 李锟、 蔡志刚、 郭超、王会影、邬海忠、钟科、

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