GB/T 4937.11-2018 半导体器件机械和气候试验方法第11部分：快速温度变化双液槽法_标准下载

当前位置：标准网国家标准

GB/T 4937.11-2018 半导体器件机械和气候试验方法第11部分：快速温度变化双液槽法

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 11: Rapid change of temperature—Two-fluid-bath method

GB/T 4937.11-2018

国家标准推荐性

收藏报错

标准GB/T 4937.11-2018标准状态

发布于：2018-09-17
实施于：2019-01-01
废止

标准详情

标准名称：半导体器件机械和气候试验方法第11部分：快速温度变化双液槽法
标准号：GB/T 4937.11-2018
中国标准分类号：L40
发布日期：2018-09-17
国际标准分类号：31.080.01
实施日期：2019-01-01
技术归口：全国半导体器件标准化技术委员会
代替标准：
主管部门：工业和信息化部（电子）
标准分类：电子学半导体分立器件半导体分立器件综合

内容简介

国家标准《半导体器件机械和气候试验方法第11部分：快速温度变化双液槽法》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
GB/T 4937的本部分规定了快速温度变化--双液槽法的试验方法。当器件鉴定既可以采用空气-空气温度循环又可以采用快速温度变化--双液槽法试验时，优先采用空气一空气温度循环试验。本试验也可采用少量循环(5次～10次)的方式来模拟清洗器件的加热液体对器件的影响。本试验适用于所有的半导体器件。除非在有关规范中另有说明，本试验被认为是破坏性的。本试验与GB/T 2423.22-2002基本一致，但鉴于半导体器件的特殊要求，采用本部分的条款。

起草单位

中国电子科技集团公司第十三研究所、

起草人

张天福、高金环、于学东、崔波、张艳杰、彭浩、李树杰、裴选、迟雷、

相近标准

20061452-T-339 电子设备用连接器试验和测量第11-4部分：气候试验试验11d：温度快速变化
20141818-T-339 半导体器件机械和气候试验方法第25部分:温度循环
20201540-T-339 半导体器件机械和气候试验方法第10部分：机械冲击
20193134-T-339 半导体器件机械和气候试验方法第8部分：密封
20162479-T-339 半导体器件机械和气候试验方法第34部分：功率循环
20201547-T-339 半导体器件机械和气候试验方法第29部分：闩锁试验
20231752-T-339 半导体器件机械和气候试验方法第9部分：标志耐久性
20201539-T-339 半导体器件机械和气候试验方法第38部分：带存储的半导体器件的软错误试验方法
20201541-T-339 半导体器件机械和气候试验方法第36部分：稳态加速度
20201546-T-339 半导体器件机械与气候试验方法第44部分：半导体器件的中子辐照单粒子效应（SEE）试验方法

* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，版权归原作者所有，如侵犯您的权益，请联系我们处理。

标准质量：

下载说明

① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准，期待。
② 标准出现数据错误、过期或其它问题请点击下方「在线纠错」通知我们，感谢！
③ 本站资源均来源于互联网，仅供网友学习交流，若侵犯了您的权益，请联系我们予以删除。

在线纠错

标准过期下载问题模糊有误其它问题