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GB/T 4937.13-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分：盐雾

GB/T 4937.13-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分：盐雾

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 13: Salt atmosphere

GB/T 4937.13-2018

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标准GB/T 4937.13-2018标准状态

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  • 标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分：盐雾
  • 标准号：GB/T 4937.13-2018
    中国标准分类号：L40
  • 发布日期：2018-09-17
    国际标准分类号：31.080.01
  • 实施日期：2019-01-01
    技术归口：全国半导体器件标准化技术委员会
  • 代替标准：
    主管部门：工业和信息化部（电子）
  • 标准分类：电子学半导体分立器件半导体分立器件综合

内容简介

国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分：盐雾》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
GB/T 4937的本部分规定了半导体器件的盐雾试验方法，以确定半导体器件耐腐蚀的能力。本试验是模拟严酷的海边大气对器件暴露表面影响的加速试验。适用于工作在海上和沿海地区的器件。本试验是破坏性试验。本试验总体上符合IEC 60068-2-11，但鉴于半导体器件的特殊要求，采用本部分的条款。

起草单位

中国电子科技集团公司第十三研究所、无锡必创传感科技有限公司、北京大学微电子研究院、

起草人

张艳杰、 彭浩、 崔波、 高金环、 迟雷、 张威、 李树杰、岳振鹏、裴选、张天福、陈得民、周刚、

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