标准详情
- 标准名称:电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分:试验25c:上升时间衰减
- 标准号:GB/T 5095.2503-2021
- 中国标准分类号:L23
- 发布日期:2021-03-09
- 国际标准分类号:31.220.10
- 实施日期:2021-10-01
- 技术归口:全国电子设备用机电元件标准化技术委员会
- 代替标准:
- 主管部门:工业和信息化部(电子)
- 标准分类:电子学电子电信设备用机电元件插头和插座装置、连接器
国家标准《电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分:试验25c:上升时间衰减》由TC166(全国电子设备用机电元件标准化技术委员会)归口,主管部门为工业和信息化部(电子)。
GB/T 5095的本部分适用于电连接器、插座、电缆组件或互连系统。本部分描述了测量样品对通过其中信号的上升时间所产生影响的方法。
四川华丰企业集团有限公司、中国电子技术标准化研究院、
庞斌、 朱茗、 汪其龙、 肖淼、刘俊、
20061447-T-339 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第11-1部分:气候试验 试验11a:气候序列
20061455-T-339 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第11-8部分:气候试验 试验11h:沙尘
GB/T 5095.2502-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分:试验25b:衰减(插入损耗)
GB/T 5095.5-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第5部分:撞击试验(自由元件)、静负荷试验(固定元件)、寿命试验和过负荷试验
GB/T 5095.6-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第6部分:气候试验和锡焊试验
GB/T 5095.11-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第11部分:气候试验
GB/T 5095.4-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第4部分:动态应力试验
GB/T 5095.9-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第9部分:杂项试验
GB/T 5095.1-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第1部分:总则
GB/T 5095.7-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第7部分:机械操作试验和密封性试验
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