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GB/T 5095.2503-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分:试验25c:上升时间衰减

GB/T 5095.2503-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分:试验25c:上升时间衰减

Electromechanical components for electronic equipment—Basic testing procedures and measuring methods—Part 25-3: Test 25c: Rise time degradation

GB/T 5095.2503-2021

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标准GB/T 5095.2503-2021标准状态

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标准详情

  • 标准名称:电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分:试验25c:上升时间衰减
  • 标准号:GB/T 5095.2503-2021
    中国标准分类号:L23
  • 发布日期:2021-03-09
    国际标准分类号:31.220.10
  • 实施日期:2021-10-01
    技术归口:全国电子设备用机电元件标准化技术委员会
  • 代替标准:
    主管部门:工业和信息化部(电子)
  • 标准分类:电子学电子电信设备用机电元件插头和插座装置、连接器

内容简介

国家标准《电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分:试验25c:上升时间衰减》由TC166(全国电子设备用机电元件标准化技术委员会)归口,主管部门为工业和信息化部(电子)。
GB/T 5095的本部分适用于电连接器、插座、电缆组件或互连系统。本部分描述了测量样品对通过其中信号的上升时间所产生影响的方法。

起草单位

四川华丰企业集团有限公司、中国电子技术标准化研究院、

起草人

庞斌、 朱茗、 汪其龙、 肖淼、刘俊、

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