GB/T 34002-2017 微束分析透射电子显微术用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法_标准下载

GB/T 34002-2017 微束分析透射电子显微术用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法

Microbeam analysis—Analytical transmission electron microscopy—Methods for calibrating image magnification by using reference materials having periodic structures

GB/T 34002-2017

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标准GB/T 34002-2017标准状态

发布于：2017-07-12
实施于：2018-06-01
废止

标准详情

标准名称：微束分析透射电子显微术用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法
标准号：GB/T 34002-2017
中国标准分类号：G04
发布日期：2017-07-12
国际标准分类号：71.040.40
实施日期：2018-06-01
技术归口：全国微束分析标准化技术委员会
代替标准：
主管部门：国家标准化管理委员会
标准分类：化工技术分析化学化学分析

内容简介

国家标准《微束分析透射电子显微术用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。
本标准规定了透射电镜（TEM）在很大放大倍率范围内所记录的图像的校准方法。用于校准的标准物质具有周期性结构，例如衍射光栅复型、半导体的超点阵结构或X射线分析的分光晶体以及碳、金或硅的晶体晶格像。本标准适用于记录在照相胶片上或成像板上或数字相机内置传感器采集的TEM图像的放大倍率。本标准也可用于校准标尺，但不适用于专用的临界尺寸测长透射电镜（CD-TEM）和扫描透射电镜(STEM)。

起草单位

北京科技大学、

起草人

柳得橹、郜欣、权茂华、

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