GB/T 20726-2015 微束分析电子探针显微分析X射线能谱仪主要性能参数及核查方法_标准下载

GB/T 20726-2015 微束分析电子探针显微分析X射线能谱仪主要性能参数及核查方法

Microbeam analysis—Selected instrumental performance parameters for the specification and checking of energy dispersive X-ray spectrometers for use in electron probe microanalysis

GB/T 20726-2015

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标准GB/T 20726-2015标准状态

发布于：2015-10-09
实施于：2016-09-01
废止

标准详情

标准名称：微束分析电子探针显微分析X射线能谱仪主要性能参数及核查方法
标准号：GB/T 20726-2015
中国标准分类号：G04
发布日期：2015-10-09
国际标准分类号：71.040.99
实施日期：2016-09-01
技术归口：全国微束分析标准化技术委员会
代替标准：代替GB/T 20726-2006
主管部门：国家标准化管理委员会
标准分类：化工技术分析化学有关分析化学的其他标准

内容简介

国家标准《微束分析电子探针显微分析X射线能谱仪主要性能参数及核查方法》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。
本标准规定了表征以半导体探测器、前置放大器和信号处理系统为基本构成的X-射线能谱仪（EDS）特性最重要的性能参数。本标准仅适用基于固态电离原理的半导体探测器能谱仪。本标准规定了与扫描电镜（SEM）或电子探针（EPMA）联用的EDS性能参数的最低要求以及核查方法。至于实际分析过程，在ISO 22309和 ASTM E1508 中已有规范，不在本标准范围之内。

起草单位

中国科学院地质与地球物理研究所、

起草人

曾荣树、徐文东、毛骞、马玉光、

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